|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Effect of thikness ratio deviation on soft X-ray diffraction of multilayersстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
- Авторы: Bing Wang, Lissong Xiu, Hianchang He, Zigin Wu, Red'ko S.V., Ilyushin A.S.
- Журнал: Journal of Applied Physics
- Том: 72
- Номер: 6
- Год издания: 1992
- Издательство: AIP Publishing
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 5
- Добавил в систему: Илюшин Александр Сергеевич