Mathematical Model in X-Ray difractometry for precise reflection Intensity determinationстатья Тезисы

Работа с статьей


[1] Mathematical model in x-ray difractometry for precise reflection intensity determination / A. V. Laktionov, Y. P. Pyt'ev, A. Chulichkov et al. // 12-th European Crystallographic meeting. — Vol. 3. — Moscow, 1989.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть