Выявление дефектов интегральных схем методами морфологического анализа электронномикроскопических изображенийтезисы доклада

Работа с тезисами доклада


[1] Выявление дефектов интегральных схем методами морфологического анализа электронномикроскопических изображений / Ю. П. Пытьев, Е. Н. Терентьев, С. С. Задорожный и др. // Тех. докл. на Симпоз. по методам подготовки сложных объектов и анал. электр. микр. изображений. — 1976.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть