Characterization of Nanographite Films by Specular Gloss Measurementsстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.

Работа с статьей

[1] Characterization of nanographite films by specular gloss measurements / K. Tommi, I. Rinat, O. Alexander, S. Yuri // Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics. — 2012. — Vol. 7. — P. 54–59. Here we propose and demonstrate a specular gloss-based method to estimate a thickness of nanographite films. The proposed method is used to measure a thicknesses of multilayered graphene material produced by two different chemical vapor deposition processes (CVD). Since the presented technique is non-contact and non-destructive it opens an interesting prospect for the fast assessment of ultrathin nanographite films. The obtained results indicated that the measurement technique can be used to define a thickness of graphite films in accuracy of 3 or 4 graphene layers. Moreover the proposed technique allows us to observe a qualitative difference between plasma-enhanced CVD and thermal CVD. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть