Аннотация:В работе предложен новый алгоритм определения оптических параметров напыляемых многослойных оптических покрытий, основанный на сравнении положения экстремумов спектральных характеристик напыляемых слоистых сред. Проведено сравнение двух вариантов данного алгоритма. На серии модельных численных экспериментов показано преимущество одного из этих вариантов, позволяющего уменьшить влияние систематических ошибок в спектральных данных.