Non-destructive determination of thickness of the dielectric layers using EDXстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 марта 2017 г.

Работа с статьей


[1] Non-destructive determination of thickness of the dielectric layers using edx / S. A. Sokolov, E. A. Kelm, R. A. Milovanov et al. // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2016. — Vol. 10224. — P. 1022426–1–1022426–6. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть