|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Evaluation of fullerenes C60/C70 layers in polystyrene thin films by neutron and X-ray reflectometryстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 15 декабря 2021 г.
- Авторы: Tropin Timur V., Karpets Maksym L., Kosiachkin Yehor, Gapon Igor V., Gorshkova Yulia E., Aksenov Victor L.
- Журнал: Fullerenes, Nanotubes and Carbon Nanostructures
- Том: 29
- Номер: 10
- Год издания: 2021
- Издательство: Taylor & Francis
- Местоположение издательства: United Kingdom
- Первая страница: 819
- Последняя страница: 824
- DOI: 10.1080/1536383x.2021.1901276
- Аннотация: Thin films of polystyrene-fullerene C60 and C70 nanocomposites are investigated by X-ray, neutron reflectometry and AFM. These films were prepared by spin coating from toluene solutions with fullerene content of 1, 3, and 5 wt % relative to polystyrene mass. The concomitant to spin-coating formation of aggregates, larger for C70, was observed. Still, a formation of an enriched layer of fullerenes with a thickness up to 5 nm was detected after model fitting of the reflectivity curves.
- Добавил в систему: Тропин Тимур Васильевич