|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Investigation of Helimagnetism in Dy and Ho Thin Films by Neutron Reflectometryстатья
- Авторы: Devyaterikov D.I., Kravtsov E.A., Proglyado V.V., Zhaketov V.D., Nikitenko Yu V.
- Журнал: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- Том: 15
- Номер: 3
- Год издания: 2021
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- DOI: 10.1134/S0031918X21050033
- Аннотация: Представлены результаты исследования тонких плёнок редкоземельныхгелимагнетиков (РЗМ) Dy и Ho методом рефлектометрии поляризованныхнейтронов. Было показано, что при росте редкоземельных структур наподложках сапфира с буферным слоем Nb методом магнетронного напыления[1 1 02]Al2O3 || [110]Nb || [ 0001] R происходит полная релаксация кристаллическихрешеток Nb и редкоземельной пленки. Было установлено, что ряд магнитныхфазовых переходов, характерных для объёмных Dy и Ho, не наблюдается втонких плёнках [ 0001] R толщиной 200 нм или наблюдается в изменённом виде.Также, из данных рефлектометрии поляризованных нейтронов и измеренийтемпературной зависимости намагниченности в плоскости образца былиопределены отличия в температурах Нееля и Кюри для тонких плёнок РЗМ посравнению с объёмными.
- Добавил в систему: Никитенко Юрий Васильевич