Исследование миграции щелочей под воздействием пучка электронов в водосодержащих риолитовых стеклах

Некрасов, А.Н.; Девятова, В.Н.

Авторы: Некрасов А.Н., Девятова В.Н.
Сборник: Физико-химические и петрофзические исследования в науках о Земле. Двадцать вторая международная конференция. Материалы конференции
Год издания: 2021
Место издания: ИГЕМ РАН Москва
Первая страница: 175
Последняя страница: 176
Аннотация: Была проведена методическая работа по оценке корректности определения щелочей при EDX-анализе водосодержащих риолитовых стекол. Была исследована миграция щелочей и других элементов в водосодержащих стеклах пеплов риолитового состава вулкана Шивелуч при токах пучка I=130, 500, 1300 pA (в отличие от диапазона I=2*103-5*104pA, использованного в методической работе Morgan & London 1996, 2005). Съемка проводилась на цифровом электронном сканирующем микроскопе Tescan VEGA II XMU, оснащенным энергодисперсионным рентгеновским анализатором (EDX) с полупроводниковым детектором Si(Li) INCA Energy 450. Расчеты результатов химического состава, включая содержание кислорода, производились программой INCA Suite ver. 4.15. Соответственно определение содержания воды проводилось как по разнице сумм, так и по избыточному кислороду. Съемка составов велась тремя способами – точкой <1 мкм2, площадкой ~ 20*20 мкм, а в случае наличия крупных кусочков стекла – до 50*50 мкм. Для сравнения использован образец водосодержащего риолитового стекла (пехштейн, Дарасун) известного состава (Эпельбаум и др., 1994). Показано, что занижение содержаний Na2O происходит при съемке в точке при увеличении тока поглощенных электронов: при 130 pA 2.7±0.2 wt %- и при 1300 pA 2.0±0.3 wt.%. Для К2О эффект проявляется слабее. В случае сканирования площадок 20*20 и 50*50 мкм2 оценка содержание щелочей в пределах ошибки измерения держится на постоянном уровне при разных токах поглощенных электронов - Na2O 3.5±0.1 wt.%, К2О 4.1±0.1 wt.%. По нашим данным содержание воды, рассчитанное по избыточному кислороду и разнице сумм со 100%, для съемки по площадкам при токах пучка I=500, 1300pA – совпадают в пределах ошибки. Проведенное исследование продемонстрировало корректность анализа петрогенных элементов в режиме сканирования площадок с размером 20*20 мкм2 при параметрах съемки E0=20 kV, I=500 pA, 1300 pA. Данные параметры близки к значениям, рекомендованным другими авторами (Morgan, London 1996,2005)http://www.igem.ru/petromeeting_XXII/tbgdocs/sbornik_2021.pdf
Добавил в систему: Девятова Вера Николаевна

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Исследование миграции щелочей под воздействием пучка электронов в водосодержащих риолитовых стеклахстатья

Прикрепленные файлы