Исследование контура обертонной спектральной линии HF, уширенной Ar, Xe, Kr, N2 методом диодной лазерной спектроскопиистатья

Работа с статьей


[1] Исследование контура обертонной спектральной линии hf, уширенной ar, xe, kr, n2 методом диодной лазерной спектроскопии / Ш. Ш. Набиев, С. В. Иванов, Я. Я. Понуровский, В. М. Семенов // Препринт ИАЭ. — 2012. — № 6729.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть