|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Исследование контура обертонной спектральной линии HF, уширенной Ar, Xe, Kr, N2 методом диодной лазерной спектроскопиистатья
- Авторы: Набиев Ш.Ш., Иванов С.В., Понуровский Я.Я., Семенов В.М.
- Журнал: Препринт ИАЭ
- Номер: 6729
- Год издания: 2012
- Добавил в систему: Иванов Сергей Викторович