Percent-Level Accuracy in Measuring Strong-Field Photoionization and Laser Intensityтезисы доклада
Электронная публикация
Тезисы
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 мая 2017 г.
Авторы:
Wallace W.C. ,
Ghafur O. ,
Khurmi C. ,
Sainadh S. ,
Calvert J.E. ,
Pullen M. ,
Litvinyuk I.V. ,
Sang R.T. ,
Kielpinski D. ,
Bartschat K. ,
Grum-Grzhimailo A.N. ,
Wells D. ,
Quiney H. ,
Tong X.
Сборник:
Proceedings of International Conference on Ultrafast Phenomena (17–22 Santa Fe, New Mexico, United States)
Тезисы
Год издания:
2016
Издательство:
Optical Society of America
Местоположение издательства:
United States
Первая страница:
39
Последняя страница:
39
DOI:
https://www.osapublishing.org/abstract.cfm?URI=UP-2016-UTh4A.29
Аннотация:
We present percent-level accurate ionisation yields of atomic hydrogen, argon, krypton, and xenon by few-cycle lasers. From these measurements, a peak laser intensity calibration standard is derived, accurate to 1.3% in the 1014 W/cm2 regime.
Добавил в систему:
Грум-Гржимайло Алексей Николаевич