Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Analysis of digital elevation models of silicon wafers and wafer-based structures
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 апреля 2022 г.
Авторы:
Dedkova A.
,
Florinsky I.
,
Djuzhev N.
Сборник:
Proceedings of International Confernce "Micro- and Nanoelectronics - 2021" (ICMNE-2021): Book of abstracts
Редакторы:
Лукичев Владимир Федорович
,
Руденко Константин Васильевич
Тезисы
Год издания:
2021
Издательство:
ООО "МАКС Пресс"
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
142
Последняя страница:
142
Добавил в систему:
Флоринский Игорь Васильевич