Рентгеновская рефлектометрия, дифрактометрия и электронная спектроскопия многослойных структур с нанокристаллами кремниятезисы доклада

Работа с тезисами доклада


[1] Рентгеновская рефлектометрия, дифрактометрия и электронная спектроскопия многослойных структур с нанокристаллами кремния / Д. М. Жигунов, И. А. Каменских, С. Н. Якунин и др. // Сборник тезисов Первого российского кристаллографического конгресса, Москва, ВДНХ, 21-26 ноября 2016 г. — ООО НП-Принт СПб, 2016. — С. 205–205.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть