|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Непрерывное вейвлет-преобразование изображения растрового электронного микроскопа для определения среднего размера наночастицстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Семенов В.И., Михеев К.Г., Могилева Т.Н., Михеев Г.М.
- Журнал: Химическая физика и мезоскопия
- Том: 23
- Номер: 2
- Год издания: 2021
- Издательство: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки "Удмуртский федеральный исследовательский центр Уральского отделения Российской академии наук"
- Местоположение издательства: Ижевск
- Первая страница: 212
- Последняя страница: 222
- DOI: 10.15350/17270529.2021.2.19
- Аннотация: Измерение размеров наночастиц является одной из важных задач при исследовании их физико-химических свойств. В настоящее время для определения размеров наночастиц применяются методы статического и динамического рассеяния света, а также методы атомно-силовой и растровой электронной микроскопии. В данной работе сообщается о применении непрерывного вейвлет-преобразования изображения растрового электронного микроскопа для определения среднего размера алмазных наночастиц. Непрерывное вейвлет-преобразование вычисляется в частотной области с применением быстрого преобразовании Фурье. Переход в частотную область позволяет сократить время преобразования на четыре порядка, а также конструировать ортогональные вейвлеты с дробными масштабными коэффициентами и прямоугольной амплитудной характеристикой, что невозможно при использовании дискретного вейвлет-преобразования. Полученные результаты находятся в хорошем согласии с данными измерения размеров наночастиц, выполненными с помощью атомно-силового микроскопа.
- Добавил в систему: Могилева Татьяна Николаевна