|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Influence of substrate tilt angle on the incorporation of BaHfO3 in thick YBa2Cu3O7-δ filmsстатья
- Авторы: Sieger Max, Pahlke Patrick, Ottolinger Rick, Stafford Benjamin, Lao Mayraluna, Meledin Alexander, Bauer Markus, Eisterer Michael, Van Tendeloo Gustaaf, Schultz Ludwig
- Журнал: IEEE Transactions on Applied Superconductivity
- Том: 27
- Номер: 4
- Год издания: 2017
- Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers
- Местоположение издательства: Piscataway, NJ, United States
- DOI: 10.1109/tasc.2016.2631587
- Добавил в систему: Меледин Александр Александрович