Развитие рентгенодифракционных методов для исследования поведения дефектной структуры кристаллов при воздействии внешнего электрического поля и для характеризации пьезоэлектрических свойствтезисы доклада

Работа с тезисами доклада


[1] Развитие рентгенодифракционных методов для исследования поведения дефектной структуры кристаллов при воздействии внешнего электрического поля и для характеризации пьезоэлектрических свойств / Н. В. Марченков, А. Е. Благов, Ю. В. Писаревский и др. // Сборник тезисов Первого российского кристаллографического конгресса, Москва, ВДНХ, 21-26 ноября 2016 г. — ООО "НП-Принт" СПб, 2016. — С. 130–130.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть