X-Ray Reflectometry and GISAXS study of the surface nanolayers on colloidal silicaтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 25 апреля 2017 г.

Работа с тезисами доклада


[1] X-ray reflectometry and gisaxs study of the surface nanolayers on colloidal silica / B. S. Roshchin, A. M. Tikhonov, Y. O. Vokov et al. // Book of Abstracts 13th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging XTOP-2016 (Brno, Czech Republic, 4th-8th September 2016), Book of abstracts. — 2016. — P. 288–288.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть