Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для создания жидкокристаллических метаповерхностейстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 12 января 2022 г.
Аннотация:Обработка фокусированным ионным пучком подложек с прозрачными электродами, покрытыми натертыми полимерными слоями, является ключевым этапом создания жидкокристаллических метаповерхностей. Такая обработка обеспечивает локальный контроль над ориентацией жидкого кристалла вблизи поверхности подложки. Структура, состав и оптические свойства обработанной фокусированным ионным пучком поверхности подложки исследованы методами растровой электронной, просвечивающей электронной, зондовой и оптической микроскопии, а также электронной оже-спектроскопии. Проведен анализ последствий натирки и облучения ионным пучком для выяснения микроскопических особенностей и причин изменения ориентирующих свойств.