Measurement of dielectric losses in amorphous thin films at gigahertz frequencies using superconducting resonatorsстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.

Работа с статьей


[1] Measurement of dielectric losses in amorphous thin films at gigahertz frequencies using superconducting resonators / C. Kaiser, S. T. Skacel, S. Wunsch et al. // Superconductor Science and Technology. — 2010. — Vol. 23. — P. 075008–075008. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть