|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Reliable Characterization of e-beam Evaporated TiO2 Filmsстатья
- Авторы: Amotchkina T., Trubetskov M.K., Tikhonravov A.V., Angelov I., Pervak V.
- Сборник: Optical Interference Coatings, M. Tilsch and D. Ristau, eds., OSA Technical Digest (online)
- Год издания: 2013
- Издательство: Optical Society of America
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: FA.6
- DOI: 10.1364/OIC.2013.FA.6
- Аннотация: We study TiO2 films deposited at different substrate temperatures. The films are carefully characterized on the basis of in situ and ex situ measurements. The results will be useful for further laser-induced damage threshold investigations.
- Добавил в систему: Тихонравов Александр Владимирович