Reliable Characterization of e-beam Evaporated TiO2 Filmsстатья

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Работа с статьей


[1] Reliable characterization of e-beam evaporated tio2 films / T. Amotchkina, M. K. Trubetskov, A. V. Tikhonravov et al. // Optical Interference Coatings, M. Tilsch and D. Ristau, eds., OSA Technical Digest (online). — United States: United States, 2013. — P. FA.6. We study TiO2 films deposited at different substrate temperatures. The films are carefully characterized on the basis of in situ and ex situ measurements. The results will be useful for further laser-induced damage threshold investigations. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть