Устойчивость паттерных образований в картинах дифракции света на структурах с симметрией самоподобиястатья

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст Текст Waves_2013.pdf 236,9 КБ 20 июня 2014 [Рыжикова Ю.В.]

[1] Короленко П. В., Рыжиков С. Б., Рыжикова Ю. В. Устойчивость паттерных образований в картинах дифракции света на структурах с симметрией самоподобия // Сборник трудов XIV Всероссийской школы- семинара Физика и применение микроволн. — Секция 6. Когерентная и нелинейная оптика. — М.:МГУ, 2013. — С. 38–40. Предложен и обоснован метод определения структурных особенностей апериодических дифракционных решеток на основе анализа формы локальных паттернов в их скейлинговых характеристиках; выполнена оценка устойчивости паттернов к изменению условий освещения решеток и присутствующим в них дефектам.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть