Аннотация:В настоящее время актуальна разработка методов и устройств измерения квантовых состояний потоков фотонов. Предложен прототип устройства для характеризации методом квантовой томографии бифотонных источников света на основе спонтанного параметрического рассеяния. Прототип представляет собой экспериментальную реализацию специализированного квантового томографа, который предназначен для измерения квантовых поляризационных состояний излучения, генерируемого бифотонными источниками. Рассмотрен принцип работы устройства для характеризации бифотонных источников света. Описано специально разработанное программное обеспечение, с помощью которого можно определить статистические характеристики измеренного квантового состояния, рассчитать томографическую и наивероятнейшую оценки матрицы плотности и погрешности измерения элементов матрицы плотности, оценить качество квантового состояния бифотонов.