|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Application of Raman spectrometry for the characterization of complex oxide thin films grown by MOCVDстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 марта 2017 г.
- Авторы: Güttler B., Gorbenko O.Yu, Novozhilov M.A., Samoilenkov S.V., Amelichev V.A., Wahl G., Zandbergen H.W.
- Журнал: JOURNAL DE PHYSIQUE
- Том: 9
- Номер: PR8
- Год издания: 1999
- Первая страница: Pr8
- Последняя страница: 1179–Pr8–1186
- Добавил в систему: Амеличев Вадим Анатольевич