Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследование многослойных тонкопленочных структур методом Резерфордовского обратного рассеяния
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 февраля 2021 г.
Авторы:
Мелесов Н.С.,
Бачурин В.И.
, Паршин Е.О., Рудый А.С., Чурилов А.Б.
Журнал:
Письма в "Журнал технической физики"
Том:
45
Номер:
12
Год издания:
2019
Издательство:
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
26
Последняя страница:
29
DOI:
10.21883/PJTF.2019.12.47914.17798
Добавил в систему:
Бачурин Владимир Иванович