SCANNING ANALYTICAL MICROSCOPY OF MULTILAYER SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURESстатья

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.

Работа с статьей


[1] DUNAEV S. F., EGORENKOV O. A., FILIPPOV M. N. Scanning analytical microscopy of multilayer semiconductor heterostructures // IZVESTIYA AKADEMII NAUK SSSR SERIYA FIZICHESKAYA. — 1995. — Vol. 59, no. 2. — P. 2–7.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть