Microstructure evolution in copper under severe plastic deformation detected by in situ X-ray diffraction using monochromatic synchrotronстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 12 октября 2013 г.

Работа с статьей


[1] Microstructure evolution in copper under severe plastic deformation detected by in situ x-ray diffraction using monochromatic synchrotron / A. R. Kilmametov, G. Vaughan, A. R. Yavari et al. // Materials Science and Engineering A. — 2009. — Vol. 503. — P. 10.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть