|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Characterization of the Microstructure of Severely Deformed Titanium by X-ray Diffraction Profile Analysisстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
- Авторы: Gubicza J., Dragomir I.C., Ribarik G., Zhu Y.T., Valiev R., Ungar T.
- Журнал: Materials Science Forum
- Номер: 414-415
- Год издания: 2003
- Издательство: TRANS TECH PUBLICATIONS LTD
- Местоположение издательства: LAUBISRUTISTR 24, STAFA-ZUERICH,SWITZERLAND, CH-8712
- Первая страница: 229
- Добавил в систему: Валиев Руслан Зуфарович