X-Ray Study of Microstructure and Grain Boundary Statistics in Nanocrystaline Materialsтезисы доклада

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.

Работа с тезисами доклада


[1] Zhilyaev A. P., Alexandrov I. V., Valiev R. Z. X-ray study of microstructure and grain boundary statistics in nanocrystaline materials // Nanostructured Films and Coatings. — Kluwer Publ, 2000. — P. 215.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть