|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
TCAD-based performance analysis of nanoscale vacuum field-emission transistors at advanced technology nodesстатья
- Авторы: Evsikov I.D., Djuzhev N.A., Demin G.D., Makhiboroda M.A.
- Сборник: Proceedings of SPIE
- Том: 11022
- Год издания: 2019
- Место издания: SPIE
- Добавил в систему: Демин Глеб Дмитриевич