|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Optical and photoelectrical characterization of as-deposited and annealed PECVD polysilicon thin filmsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 декабря 2013 г.
- Авторы: Кhomich A.V., Kovalev V.I., Vedeneev A.S., Kazanskii A.G., Forsh P.A., He D., Wang X.Q., Mell H., Vlasov I.I., Zavedeev E.V.
- Сборник: Proceedings SPIE
- Том: 5401
- Год издания: 2004
- Первая страница: 200
- Последняя страница: 207
- Добавил в систему: Казанский Андрей Георгиевич