|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Foundations for a theory of computer assisted superhigh resolution measurement systemsстатья Перевод Электронная публикация
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Pyt'ev Yu P., Chulichkov A.I.
- Журнал: Measurement Techniques
- Том: 41
- Номер: 2
- Год издания: 1998
- Издательство: Springer Science+Business Media, LLC.
- Местоположение издательства: New York, NY, United States
- Первая страница: 111
- Последняя страница: 121
- DOI: 10.1007/BF02524537
- Аннотация: We present the elements of a theory for computer aided measurement systems with superhigh resolution. We present the concept of an ideal measurement instrument that does not distort the parameters of an object of study.
- Добавил в систему: Чуличков Алексей Иванович