Direct observation of amorphous to crystalline phase transitions in Ge-Sb-Te thin films by Grazing Incidence X-ray Diffraction method

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

Direct observation of amorphous to crystalline phase transitions in Ge-Sb-Te thin films by Grazing Incidence X-ray Diffraction methodстатья

Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus

Авторы: Kozyukhin S., Nikolaev I., Lazarenko P., Valkovskiy G., Konovalov O., Kolobov A., Grigoryeva N.
Журнал: Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Год издания: 2020
Издательство: Springer Nature
Местоположение издательства: Switzerland
DOI: 10.1007/s10854-020-03565-7
Добавил в систему: Еремина Елена Алимовна