Characterization of the CTAB/NaSal/TEOS Solid Films – Prospective Candidates for Application as Low-Dielectric-Constant Interlayersстатья

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science, Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 октября 2016 г.