Новые возможности и некоторые артефакты режима катодолюминесценции в сканирующей электронной микроскопии

Зайцев, С.В.; Купреенко, С.Ю.; Лукьянов, А.Е.; Рау, Э.И.; Татаринцев, А.А.; Хайдаров, А.А.

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 3 мая 2017 г.

Авторы: Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Татаринцев А.А., Хайдаров А.А.
Журнал: Известия Российской академии наук. Серия физическая
Том: 8
Номер: 12
Год издания: 2016
Первая страница: 1623
Последняя страница: 1628
DOI: 10.7868/S0367676516120206
Аннотация: Обнаружена и проанализирована засветка камеры сканирующего электронного микроскопа(СЭМ), возникающая из-за воздействия электронов отраженных от образца (и других частей камеры) на люминесцирующий коллектор Торнли–Эверхарта. Этот “паразитный” эффект (артефакт)нужно учитывать и исключать во всех экспериментах с регистрацией катодолюминесценции (КЛ)образца. Предложен новый способ измерения поверхностных потенциалов на диэлектрических образцах, основанный на регистрации изменения сигнала КЛ в процессе электронного облучения образца.
Добавил в систему: Татаринцев Андрей Андреевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Новые возможности и некоторые артефакты режима катодолюминесценции в сканирующей электронной микроскопиистатья

Прикрепленные файлы