|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Влияние фоторезистивного эффекта резистивных делителей мультискана на точность измерений геометрических параметров объектов. Интеллектуальные системы в производствестатья
- Авторы: Шелковников Ю.К., Осипов Н.И., Кизнерцев С.Р., Метелева А.А.
- Журнал: Интеллектуальные системы в производстве
- Том: 16
- Номер: 4
- Год издания: 2018
- Первая страница: 57
- Последняя страница: 65
- Добавил в систему: Шелковников Юрий Константинович