Определение параметров поверхностного слоя чистых жидкостей по данным эллипсометриистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.
Аннотация:Приведён метод вычисления параметров межфазного слоя - показателя преломления и толщины интерфейса жидкость-пар из измерений коэффициента эллиптичности ρ при нескольких длинах волн зондирующего света по данным работы [1] для нескольких чистых жидкостей. Поверхностный слой предполагается однородным.