Measurement of the Ojgen Concentration Profile in the Alloys Near-Surface Layers by Middle-Energy Protons Nuclear Backscatteringтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Работа с тезисами доклада


[1] Measurement of the ojgen concentration profile in the alloys near-surface layers by middle-energy protons nuclear backscattering / E. A. Romanovskiy, M. H. Nguyen, N. G. Goryaga et al. // MPSL, Inter. Conf. Modific. of Properties of Surface Layers of Non-Semiconducting Materals Using Particle Beams, Abstr., and Preliminary Programme 30 Nov-4 Dec 1993. — Sumy Research Center and Sumy State Univ Sumy, Ukraine, 1994. — P. 94–94.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть