Определение стехиометрии и толщины нитридных покрытий с помощью метода обратного рассеяния протоновтезисы доклада

Работа с тезисами доклада


[1] Определение стехиометрии и толщины нитридных покрытий с помощью метода обратного рассеяния протонов / Е. А. Романовский, Н. Г. Горяга, А. М. Борисов и др. // Тезисы докладов 44 Международного совещания по ядерной спектроскопии и строению атомного ядра. — Изд.С.-Пб, 1994. — С. 197–197.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть