Структурированные пучки в задачах лазерной рефрактографиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 февраля 2020 г.
Аннотация:Описаны основные виды структурированных лазерных пучков, получаемых с помощью дифракционных оптических элементов. Представлена новая информационно-измерительная технология количественной диагностики неоднородных сред - лазерная рефрактография, основанная на использовании структурированного излучения. Приведены соотношения для описания геометрооптических моделей и рефракции структурированных пучков в пограничном температурном слое. Получено решение обратной задачи на основе преобразования Абеля, адаптированное для плоского пучка в случае сильной рефракции в сферическом неоднородном слое. Проведено восстановление профиля температурного слоя по рефрактограммам плоского и цилиндрического пучков.