Диагностика TiCx и TiNx - покрытий на поверхности карбида вольфрама методом ядерного обратного рассеяния протоновтезисы доклада

Работа с тезисами доклада


[1] Диагностика ticx и tinx - покрытий на поверхности карбида вольфрама методом ядерного обратного рассеяния протонов / Е. А. Романовский, Н. Г. Горяга, В. С. Куликаускас и др. // Тезисы докладов ХХV Международной конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами. — Москва, МГУ, 1995. — С. 115–115.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть