|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
X-ray Diffractometry Diagnosis of Laser Diffusion of Aluminum into Siliconстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 12 января 2022 г.
- Авторы: Bushuev V.A., Petrakov A.P.
- Журнал: Technical Physics
- Том: 45
- Номер: 5
- Год издания: 2000
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 613
- Последняя страница: 617
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич