A method for synthesis of easily-testable circuits in some basis admitting single fault detection tests of constant lengthстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 февраля 2014 г.
Аннотация:A method of synthesis of irredundant circuits of functional elements in the basis {x & y, x ⊕ y, 1, (x ⊕ 1)(y ∨ z) ∨ x(y ∼ z)} realizing arbitrary Boolean functions and admitting unit verification tests of the length not exceeding 4 is proposed in the paper for inverse or constant (stuck-at) faults at outputs of gates.