A method for synthesis of easily-testable circuits in some basis admitting single fault detection tests of constant lengthстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 февраля 2014 г.