О длине полных проверяющих тестов относительно локальных кратных слипаний входов схем для почти всех булевых функцийстатья

Работа с статьей


[1] Кузнецов И. А., Романов Д. С. О длине полных проверяющих тестов относительно локальных кратных слипаний входов схем для почти всех булевых функций // Дискретные модели в теории управляющих систем: VIII Международная конференция, Москва, 6-9 апреля, 2009 г.: Труды. — М.: Издательский отдел факультета ВМиК МГУ им. М.В. Ломоносова; МАКС Пресс, 2009. — С. 185–188.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть