|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н+-ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКСтатья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 мая 2020 г.
- Авторы: Асадчиков В.Е., Дьячкова И.Г., Золотов Д.А., Чуховский Ф.Н., Сорокин Л.М.
- Журнал: Физика твердого тела
- Том: 61
- Номер: 10
- Год издания: 2019
- Издательство: Наука
- Местоположение издательства: СПб.
- Первая страница: 1754
- Последняя страница: 1762
- DOI: 10.21883/FTT.2019.10.48245.498
- Добавил в систему: Львов Кирилл Вячеславович