В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
 
скрыть

Model-independent X-ray reflectometry analysis of phospholipid thin films on liquid substratesтезисы доклада

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 декабря 2019 г.