Field emission microscopy pattern of a single-crystal diamond needle under ultrafast laser illumination

Mammez, M.H.; Borz, M.; Blum, I.; Moldovan, S.; Arnoldi, L.; Idlahcen, S.; Hideur, A.; Kleshch, V.I.; Obraztsov, A.N.; Vella, A.

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science, Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 апреля 2020 г.

Авторы: Mammez M.H., Borz M., Blum I., Moldovan S., Arnoldi L., Idlahcen S., Hideur A., Kleshch V.I., Obraztsov A.N., Vella A.
Журнал: New Journal of Physics
Том: 21
Год издания: 2019
Издательство: IOP Publishing
Местоположение издательства: [Bristol, UK], England
Первая страница: 113060
DOI: 10.1088/1367-2630/ab5857
Аннотация: Wereport herein on the spatial beam properties of a field emission electron source based on a singlecrystal diamond needle illuminated by ultrashort light pulses.Weshow that the increasing of the laser intensity strongly modifies the emission pattern, leading to the emergence of a new emission region at high peak power. This region is situated on the opposite side of the diamond needle to the one irradiated by the laser. By spatially-resolved energy spectrometry, we prove that the electrons emitted from this region are governed by a multi-photon absorption process. The occurrence of this emission pattern can be explained by accounting for the inhomogeneous distribution of the optical field enhancement and the laser absorption induced by light diffraction within the nanometric needle. The numerical simulations performed on a real sub-wavelength tip confirm this localization of the optical field enhancement and reveal that the electrons trajectories match the spatial beam distribution evidenced experimentally. This work underlines the need to closely monitor the surface roughness of the field emitter as well as the laser illumination conditions to finely control its emission pattern.
Добавил в систему: Образцов Александр Николаевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Field emission microscopy pattern of a single-crystal diamond needle under ultrafast laser illuminationстатья Исследовательская статья

Прикрепленные файлы