|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Двухпараметрическая аппроксимация экспериментальных зависимостей сечения сбоев микросхем ОЗУ от линейной передачи энергии тяжелых ионовстатья
- Авторы: Кузнецов Н.В., Мишин Г., Ходненко В.
- Журнал: Вопросы атомной науки и техники. Серия: физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру
- Номер: 1-2
- Год издания: 2001
- Издательство: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт приборов"
- Местоположение издательства: Лыткарино
- Первая страница: 9
- Последняя страница: 12
- Добавил в систему: Кузнецов Николай Викторович