Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Двухпараметрическая аппроксимация экспериментальных зависимостей сечения сбоев микросхем ОЗУ от линейной передачи энергии тяжелых ионов
статья
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Кузнецов Н.В.
, Мишин Г., Ходненко В.
Журнал:
Вопросы атомной науки и техники. Серия: физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру
Номер:
1-2
Год издания:
2001
Издательство:
Акционерное общество "Научно-исследовательский институт приборов"
Местоположение издательства:
Лыткарино
Первая страница:
9
Последняя страница:
12
Добавил в систему:
Кузнецов Николай Викторович