ИНТЕГРИРОВАННАЯ СИСТЕМА СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП—ПЬЕЗОКВАРЦЕВЫЕ МИКРОВЕСЫ ДЛЯ IN-SITU ИССЛЕДОВАНИЯ СЕНСОРНЫХ СВОЙСТВ МИКРОКОЛИЧЕСТВ НАНОМАТЕРИАЛОВстатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК

Работа с статьей


[1] ИНТЕГРИРОВАННАЯ СИСТЕМА СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП—ПЬЕЗОКВАРЦЕВЫЕ МИКРОВЕСЫ ДЛЯ in-situ ИССЛЕДОВАНИЯ СЕНСОРНЫХ СВОЙСТВ МИКРОКОЛИЧЕСТВ НАНОМАТЕРИАЛОВ / В. С. Попов, Е. Н. Субчева, А. В. Шелаев и др. // Химическая технология. — 2013. — Т. 14. — С. 56–61.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть